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期刊文章详细信息

利用场发射扫描电镜的低电压高性能进行材料表征    

Materials characterization by using field emission scanning electron microscope

  

文献类型:期刊文章

作  者:闫允杰[1] 唐国翌[1]

机构地区:[1]清华大学材料科学与工程研究院电子显微镜实验室,北京100084

出  处:《电子显微学报》

年  份:2001

卷  号:20

期  号:4

起止页码:275-278

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘  要:场发射扫描电子显微镜 (FESEM)是一种高分辨扫描电镜 ,在材料分析中得到广泛应用。尤其是良好的低压高空间分辨性能和低压下良好的SE像相互结合使用 。

关 键 词:场发射 CNT FESEM 材料分析  低电压高性能  发射电流

分 类 号:TN16]

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