文献类型：期刊文章

作　　者：吕宗伟[1] 林争辉[1] 张镭[1]

机构地区：[1]上海交通大学大规模集成电路研究所,上海200030

出　　处：《计算机辅助设计与图形学学报》

基　　金：美国国家科学基金(5 978East Asia and Pacific Program -960 2 485 )资助

年　　份：2001

卷　　号：13

期　　号：6

起止页码：495-499

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：传统的组合逻辑电路测试方法在搜索过程中都不可避免地要进行反向回溯 ,由于反向回溯的次数过多 ,往往会降低算法的效率 .文中利用 OBDD来表示电路中每个节点所代表的逻辑函数 ,把传统算法中的反向回溯过程转换为 OBDD图的问题 ,从而加快了故障测试的速度 .同时 。

关 键 词：组合逻辑电路 故障检测 OBDD 测试  逻辑函数

分 类 号：TN791]