文献类型：期刊文章

作　　者：马德华[1] 孙其信[2]

机构地区：[1]天津市黄瓜研究所,天津300192 [2]中国农业大学农学系,北京100093

出　　处：《西北植物学报》

基　　金：国家"九五"科技攻关黄瓜育种专题部分内容 (96-0 0 2 -0 2 -2 2 )

年　　份：2001

卷　　号：21

期　　号：4

起止页码：656-661

语　　种：中文

收录情况：AJ、BIOSISPREVIEWS、CAB、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、JST、RCCSE、WOS、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：温度逆境胁迫后 ,黄瓜幼苗体内 O- ·2 的产生速率和 MDA含量均明显升高。温度逆境胁迫和常温恢复 2 d后 ,O- ·2 的产生速率都与各品系黄瓜幼苗对温度逆境的耐性呈负相关 ,说明在温度逆境胁迫过程中 ,活性氧确实是对黄瓜幼苗产生毒害的重要方式。在遭受温度逆境胁迫后 ,黄瓜幼苗体内酶促和非酶促防御系统均遭到破坏。As A含量、CAT和 POD活性均显著下降。低温胁迫后 ,对低温耐性强的品系 SOD活性上升 ,对低温耐性弱的品系 SOD活性降低。高温处理后 ,各品系 SOD活性均降低。

关 键 词：温度逆境 黄瓜幼苗 膜保护系统 抗性 品种  

分 类 号：S642.2]