期刊文章详细信息
由反射系数确定多层介质厚度
Determing Thiekess of Multi-layerd Medium by Electromagnetic Wave Reflection Coefficient
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]扬州大学工学院电子工程系,扬州225009
年 份：2001
卷 号：24
期 号：8
起止页码：8-10
语 种：中文
收录情况：IC、ZGKJHX、普通刊
摘 要：讨论了测量多层介质厚度的一种新方法 ,根据输入电磁波反射系数 ,用最优化方法反演出每层介质的厚度。
关 键 词：无损检测 电磁波 多层介质厚度 微波检测 反射系数
分 类 号：TM931]
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