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期刊文章详细信息

大口径光学元件波前功率谱密度检测  ( EI收录)  

Measurement of Wavefront Power Spectral Density of Large Optical Components

  

文献类型:期刊文章

作  者:许乔[1] 顾元元[1] 柴林[1] 李伟[1]

机构地区:[1]成都精密光学工程研究中心,成都610041

出  处:《光学学报》

基  金:中国工程物理研究院科学技术基金;惯性约束聚变青年科学基金的资助

年  份:2001

卷  号:21

期  号:3

起止页码:344-347

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:2001526779513)、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:波前功率谱密度 (PSD)被用于评价惯性约束聚变激光驱动器光学元件在中频区域的波前误差。高功率固体激光装置对大口径光学元件波前质量的要求有别于传统光学系统 ,要求对波前误差进行较高空间频率的测量。探讨了大口径光学元件波前的高空间分辨率检测技术 ,采用大口径相移干涉仪作为波前检测仪器 ,通过傅里叶变换获得波前一维功率谱密度分布。

关 键 词:光学元件 光学检测 波前功率谱密度  大口径

分 类 号:TH74]

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同被引文献:

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