期刊文章详细信息
SiO_2-Al_2O_3-SiO_2光子晶体缺陷腔的折射率传感特性 ( EI收录)
Refractive Index Sensing Property of SiO_2-Al_2O_3-SiO_2 Photonic Crystal Defect Cavity
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]燕山大学电气工程学院自动化仪表系,河北秦皇岛066004 [2]燕山大学测试计量技术及仪器河北省重点实验室,河北秦皇岛066004
基 金:国家自然科学基金(61201112;61172044);河北省自然科学基金(F2013203250;F2012203169);中国博士后科学基金(2012M510765)
年 份:2014
卷 号:41
期 号:6
起止页码:115-121
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX2011、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2013_2014、EI(收录号:20142717903293)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:为了提高光子晶体折射率传感器的灵敏度和品质因数,提出了一种基于表面波谐振原理的缺陷态光子晶体-棱镜耦合传感结构。通过分层传输矩阵法对该结构建立传感理论模型,得出古斯汉欣位移与谐振波长的变化关系,从而建立谐振波长与待测样本折射率的关系模型。以SiO2-Al2O3-SiO2作为缺陷腔来代替传统表面等离子体共振(SPR)传感器中的金膜,构成折射率敏感层;采用Al2O3作为吸收层,从而在反射光谱中得到谐振缺陷峰,通过缺陷峰值的漂移实现待测样本折射率的动态监测;以乙二醇溶液为待测样本,对该折射率传感结构的Q值及灵敏度进行了分析。结果表明,其灵敏度约为3596nm·RIU-1(RIU为相对折射率单位),Q值约为1087.7,证明了结构设计的有效性,并可为高灵敏度和高Q值折射率传感器的设计提供一定的理论指导。
关 键 词:传感器 缺陷态光子晶体 表面波谐振 折射率传感 分层传输矩阵法
分 类 号:O436]
参考文献:
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引证文献:
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同被引文献:
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