文献类型：期刊文章

作　　者：杨帆[1] 冯翔[2] 阮羚[1] 陈俊武[2] 夏荣[3] 陈昱龙[4] 金志辉[5]

机构地区：[1]国网湖北省电力公司电力科学研究院国家电网公司电气设备现场试验技术重点实验室,武汉430077 [2]华中科技大学电气与电子工程学院,武汉430074 [3]中国电力科学研究院,武汉430074 [4]武汉市规划研究院,武汉430074 [5]国网武汉供电公司,武汉430074

出　　处：《高压电器》

基　　金：湖北省电力公司2013年科技计划项目(52153213020J)~~

年　　份：2014

卷　　号：50

期　　号：6

起止页码：21-25

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2011、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2013_2014、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：水树枝是交联电缆的主要缺陷,相关研究表明,超低频介质损耗因数与交联电缆水树劣化状态具有较强相关性。笔者通过使用皮尔逊相关系数法,对国际电气电子工程师协会IEEE P4002.9/D9—2010推荐的超低频电压下介损平均值、介损变化率与介损随时间的稳定性3个评价指标,与交联电缆绝缘内部水树枝的密度、长度进行了相关性分析,研究结果对于采用上述指标评估水树枝的生长特性具有较好的理论价值与指导作用。

关 键 词：皮尔逊相关系数  显著性水平  水树枝 介损

分 类 号：TM247[材料类]