期刊文章详细信息
电子显微镜真空系统常见故障及对策
Common Technical Hitches in the Vacuum System of Electron Microscope and the Way of Dealing with
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]内蒙古大学实验测试中心,内蒙古呼和浩特010021
年 份：2001
卷 号：32
期 号：2
起止页码：234-235
语 种：中文
收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、MR、RCCSE、WOS、ZGKJHX、ZMATH、ZR、核心刊
摘 要：真空度的高低 ,直接影响成像质量 。
关 键 词：真空系统 故障 电子显微镜 真空度 排除方法 真空检漏 镜筒
分 类 号：TN16]
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