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期刊文章详细信息

非制冷红外探测器用VO_x薄膜的制备    

Preparation of VO_x Films for Uncooled Infrared Detectors

  

文献类型:期刊文章

作  者:李华高[1] 杨子文[1] 刘爽[1]

机构地区:[1]重庆光电技术研究所,重庆400060

出  处:《半导体光电》

年  份:2001

卷  号:22

期  号:1

起止页码:38-40

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:介绍了一种采用反应溅射工艺 ,通过控制不同气氛的分布制备VOx 薄膜的方法 ,并制备出电阻温度系数 (TCR)优于 - 2 %的非制冷红外探测器用VOx 薄膜。其XPS、XRD分析结果表明 ,薄膜的生长情况与制备工艺条件有密切关系。

关 键 词:非制冷红外探测器 VOx薄膜  反应溅射 电阻温度系数

分 类 号:TN215] O484.1]

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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