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期刊文章详细信息

基于正交试验的金丝键合工艺参数优化    

Gold Wire Bonding Parameter Optimization on Orthogonal Experiment Design

  

文献类型:期刊文章

作  者:宋云乾[1]

机构地区:[1]中航工业雷达与电子设备研究院,江苏无锡214063

出  处:《电子工艺技术》

年  份:2014

卷  号:35

期  号:2

起止页码:74-76

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:金丝键合是实现微波多芯片组件电气互连的关键技术。介绍了引线键合技术的基本形式,分析了键合工艺参数对键合质量的影响。基于正交试验方法,通过对影响25μm金丝键合第一键合点质量的工艺参数优化进行试验研究,确定最优化的工艺参数水平组合,达到提高金丝键合工艺可靠性的目的。

关 键 词:金丝键合 工艺参数优化  正交试验

分 类 号:TN605]

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同被引文献:

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