文献类型：期刊文章

作　　者：孙汉文[1] 锁然[2] 吕运开[1] 张德强[1]

机构地区：[1]河北大学化学系,保定071002 [2]河北农业大学食品系,保定071001

出　　处：《分析试验室》

基　　金：河北省自然科学基金!资助项目 ( 2 960 64)

年　　份：2001

卷　　号：20

期　　号：1

起止页码：82-84

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、JST、PROQUEST、RCCSE、RSC、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：研究了碱式模式氢化物发生原子荧光法测定痕量锗。考察了 HG- AFS仪器参数及氢化物发生条件对锗荧光强度的影响以及常见共存元素的干扰。在选定的最佳工作条件下 ,测定了真菌中的痕量锗。方法检出限 (3σ)为 0 .76μg/L,相对标准偏差 (RSD)为 0 .81 % ,回收率为 94.6%～ 1 0 1 .3%。

关 键 词：碱式模式  氢化物发生原子荧光法 食用菌 锗 痕量分析

分 类 号：TS207.3] S646[食品科学与工程类]