期刊文章详细信息
硅基二氧化硅光波导器件偏振特性的理论分析 ( EI收录)
Theoretical Analysis on Polarization Characteristics of Silicon-Based Silica Optical Waveguide Devices
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点联合实验室,北京100083 [2]国家光电子工艺中心,北京100083
基 金:国家自然科学基金!(6 988970 1和 6 9896 2 6 0 )资助项目
年 份:2001
卷 号:21
期 号:1
起止页码:122-124
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:从理论上分析了硅基二氧化硅光波导器件的芯区尺寸、相对折射率差、内应力和弯曲半径对器件偏振特性的影响 ,得出结论 :小折射率差的正方形波导的双折射系数小 ;内应力对双折射的影响比几何参数大 ;弯曲半径较小时 ,双折射系数较大 ,弯曲损耗也较大。
关 键 词:偏振 线双折射 硅基二氧化硅光波导器件
分 类 号:TN252]
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