文献类型：期刊文章

作　　者：王新新[1] 徐江伟[1,2] 邹伟金[1] 刘永丰[1] 王秀丽[1]

机构地区：[1]北京兆维电子(集团)有限责任公司,北京100015 [2]河北工业大学机器人及自动化研究所,天津300130

出　　处：《电子测量与仪器学报》

基　　金：北京市科学技术委员会基金(Z121100007812001)资助项目

年　　份：2014

卷　　号：28

期　　号：3

起止页码：278-284

语　　种：中文

收录情况：CSCD、CSCD2013_2014、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：随着TFT-LCD的技术飞速发展及广泛应用,人工检测良品率的方法已不能保证检测效率和检测精度。针对此问题,提出了一种基于机器视觉理论的TFT-LCD缺陷检测系统,用以满足工业自动化的需求。该系统搭建面阵CCD采集图像平台,检测算法包括提取图像的ROI区域、Gabor滤波、自适应二值化、连通域提取缺陷、计算缺陷的属性特征并标记轮廓线等步骤,最后得出结果。实验结果表明,检测系统对点缺陷、线缺陷的识别率非常高,Mura缺陷针对正视可见的效率良好。提出了一种耦合性好的检测方法,针对不同种类的缺陷采用同一种检测技术,简明、方便、准确地实现了缺陷检测,并可实际应用到工业自动化中。

关 键 词：TFT-LCD 算法  GABOR滤波 Mura  

分 类 号：TN911.73] TP2]