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期刊文章详细信息

用光纤迈克耳孙干涉仪测量折射率  ( EI收录)  

Refractive Index Measurement by Optical Fiber Michelson Interferometer

  

文献类型:期刊文章

作  者:李毛和[1] 张美敦[1]

机构地区:[1]上海交通大学光纤技术研究所,区域光纤通信网与新型光通信系统国家重点实验室,上海200030

出  处:《光学学报》

基  金:高等院校国家重点实验室访问学者基金资助

年  份:2000

卷  号:20

期  号:9

起止页码:1294-1296

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX1996、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:对测量群折射率的白光干涉和光纤迈克耳孙 (Michelson)干涉仪技术进行了改进。采用样品夹片和样品与探测光纤端面接触的方法 ,可以使群折射率的测量过程简单化。根据反射峰宽度的变化 ,可以调整样品反射界面与光纤的准直性 ,提高测量精度。

关 键 词:白光干涉 折射率 光纤迈克耳孙干涉仪  

分 类 号:O435.1]

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同被引文献:

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