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期刊文章详细信息

Y掺杂对BaTiO_3系半导化薄膜PTCR特性的影响  ( EI收录)  

Effect of Yttrium Content on the PTCR Characteristics of BaTiO_3 Semiconductive Thin Film

  

文献类型:期刊文章

作  者:沈良[1] 曲风钦[2] 宋世庚[1]

机构地区:[1]中国科学院新疆物理研究所,新疆乌鲁木齐830011 [2]烟台大学物理系,山东烟台264005

出  处:《功能材料》

基  金:西部之光基金资助项目

年  份:2001

卷  号:32

期  号:1

起止页码:53-54

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:2001476735970)、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:介绍了Y掺杂对BaTiO3 系半导化薄膜PTCR特性的影响。实验发现 ,当Y掺杂浓度在 0 .1mol%~ 1.5mol%时 ,薄膜的室温电阻为 10~ 5 0Ω ,突变温区为 1℃。在 [Y3 + ] =0 .7mol%时 ,薄膜的升阻比达 10 6。实验结果表明 :薄膜的转变温度、升阻比和室温电阻与Y掺杂浓度有关。

关 键 词:PTCR 掺杂浓度  钇掺杂  钛酸钡 半导体薄膜

分 类 号:TN304.055]

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同被引文献:

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