登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

一种威布尔寿命分布模型    

A Model of the Weibull Life Distributions

  

文献类型:期刊文章

作  者:宋世斌[1]

机构地区:[1]中山大学统计科学系,广东广州510275

出  处:《电子产品可靠性与环境试验》

年  份:2001

卷  号:19

期  号:1

起止页码:7-9

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:给出了一种产品的长记忆寿命模型 ,推导出产品寿命的威布尔分布特性 ,对产品寿命试验的设计、分析。

关 键 词:产品寿命分布  加速寿命试验 威布尔寿命分布模型  

分 类 号:TH114]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心