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期刊文章详细信息

高密度高可靠CQFN封装设计    

Highly Reliable Design of High-density CQFN

  

文献类型:期刊文章

作  者:丁荣峥[1,2] 马国荣[1,3] 宋旭峰[1] 史丽英[1]

机构地区:[1]江苏省宜兴电子器件总厂,江苏宜兴214221 [2]中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035 [3]无锡天和电子有限公司,江苏无锡214062

出  处:《电子与封装》

年  份:2013

卷  号:13

期  号:12

起止页码:1-5

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:文中阐述了高速、高性能集成电路所需高密度、高可靠的表面贴装型陶瓷封装,讨论了多层高温共烧陶瓷工艺如何设计与塑料封装QFN完全兼容。结合0.50 mm节距CQFN72外壳设计,就如何解决CQFN封装的散热、高频电性能、薄型封装的气密性和结构强度,以及封装电路的二次组装中助焊剂清洗不彻底、焊接层/焊点有空洞和桥连短路、焊点难检查和返工困难等问题进行了论述,为高密度、高性能、高可靠封装提供了新的封装结构和技术途径。

关 键 词:CQFN  热阻 气密性封装 结构强度  组装  可靠性

分 类 号:TN305.94]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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