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期刊文章详细信息

半导体PN结器件一维稳态模拟    

Modeling of one-dimensional static semiconductor PN devices

  

文献类型:期刊文章

作  者:余稳[1] 蔡新华[1] 黄文华[2] 刘国治[2]

机构地区:[1]常德师范学院电磁理论研究所,常德415000 [2]西北核技术研究所,西安710024

出  处:《衡阳师范学院学报》

年  份:1999

卷  号:20

期  号:6

起止页码:34-39

语  种:中文

收录情况:NSSD、普通刊

摘  要:从研究半导体PN结器件烧毁物理机理出发,建立了一种高效通用的半导体PN结器件计算机分析模型,并编制了一维德态程序,瞬态程序及二维模型研究将随后开展。

关 键 词:计算机模拟 一维稳态  半导体PN结器件  烧毁  微波

分 类 号:O475] O472.2[物理学类]

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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