期刊文章详细信息
高温氢退火还原V2O5制备二氧化钒薄膜及其性能的研究 ( EI收录)
Properties in vanadium dioxide thin film synthesized from V_2O_5 annealed in H_2/Ar ambience
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]南京大学电子科学与工程学院,江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京210093
基 金:国家自然科学基金青年科学基金(批准号:61204050);江苏省自然科学基金(批准号:BK2011435)资助的课题~~
年 份:2013
卷 号:62
期 号:22
起止页码:366-370
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2011、CAS、CSCD、CSCD2013_2014、EI(收录号:20134917048449)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCI-EXPANDED(收录号:WOS:000327815700053)、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊
摘 要:过渡金属氧化物二氧化钒(VO2)在温度340 K附近会发生金属绝缘体的转变(metal-insulator transition,MIT).基于金属绝缘体的转变性质,VO2薄膜材料具有很好的应用前景.本文首先采用脉冲激光沉积制备了高质量的V2O5薄膜,再通过高温氢退火还原V2O5薄膜制备出VO2多晶薄膜.研究了不同的退火温度、退火时间、退火气氛对VO2薄膜制备的影响,采用X射线衍射、X射线光电子能谱、变温电阻特性测量等手段对样品进行分析,发现在H2(5%)/Ar退火气氛下,在一定的退火温度范围内(500—525 C),退火3 h,得到了B相和M相共存的VO2薄膜,具有M相的VO2的MIT特性,而相同退火温度下退火时间达到4.5 h,薄膜完全变成B相的VO2.通过纯Ar气氛下对B相VO2再退火,得到了转变温度为350 K,电阻突变接近4个数量级的M相的VO2薄膜.实现了VO2的B相和M相的相互转变.
关 键 词:VO2薄膜 金属绝缘体转变 氢退火
分 类 号:O484.1]
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同被引文献:
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