期刊文章详细信息
集成电路三温测试数据在失效分析中的应用
Application of Three-Temperature Test Data in ICs Failure Analysis
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]北京时代民芯科技有限公司,北京100076
年 份：2013
卷 号：31
期 号：5
起止页码：1-5
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：在集成电路的失效分析中,测试数据有非常重要的作用。从集成电路的三温电性能测试数据出发,论述了电性能测试数据与集成电路基本元器件参数的关系,对理清分析思路和揭示集成电路失效的根本原因有一定的帮助。
关 键 词：测试数据 集成电路 失效分析
分 类 号：TN406]
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