期刊文章详细信息
氘在碳钨共沉积层中的滞留行为研究 ( EI收录)
Deuterium retention in carbon-tungsten co-deposition layers prepared by RF magnetron sputtering
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]复旦大学现代物理研究所应用离子束物理教育部重点实验室,上海200433 [2]复旦大学核科学与技术系,上海200433
基 金:国家自然科学基金(批准号:10975035);国家磁约束聚变科学计划(批准号:2010GB104002)资助的课题~~
年 份:2013
卷 号:62
期 号:19
起止页码:328-333
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2011、CAS、CSCD、CSCD2013_2014、EI(收录号:20134416940574)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCI-EXPANDED(收录号:WOS:000327007700043)、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊
摘 要:运用射频磁控溅射方法,在氘氩混合气氛中制备了含氘碳钨共沉积薄膜.利用离子束分析方法[卢瑟福背散射(RBS)和弹性反冲(ERD)]对薄膜样品的厚度、成分、氘含量等进行了分析;利用拉曼光谱和扫描电子显微镜(SEM),分别分析了薄膜的结构和表面形态.离子束分析发现,氘原子更易被碳原子俘获位俘获,并且氘含量会随着沉积温度的升高而降低;其他镀膜条件固定的情况下,不同混合气体压强下薄膜样品中的氘浓度在5.0 Pa处有一个峰值;拉曼光谱分析显示,沉积温度从室温升高到725 K时,碳钨共沉积层中的类石墨化成分增加,同时,非晶化的程度也加剧;扫描电子显微镜图像表明,随着温度的升高薄膜表面被腐蚀的痕迹消失,但是由于应力的改变表面出现了多处的凸起.
关 键 词:氘滞留 碳钨共沉积 射频磁控溅射
分 类 号:TL631.24]
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