期刊文章详细信息
可靠性试验中环境应力与产品故障机理间关系研究
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]航空综合环境重点实验室,北京100028
年 份：2000
卷 号：18
期 号：5
起止页码：7-11
语 种：中文
收录情况：JST、ZGKJHX、普通刊
摘 要：本文阐述了进行可靠性试验所用的环境应力种类 ,介绍了每种环境应力所会引起的故障模式 ,分析研究了每种环境应力可能导致的故障机理 ,并对实际试验中出现的典型故障模式进行了分析 ,最后对产品设计如何耐环境应力提出了建议。
关 键 词：电子产品 可靠性试验 环境应力 故障机理
分 类 号：F407.63]
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