文献类型：期刊文章

作　　者：陈开颜[1] 余浩[1] 邹程[1] 吴恒旭[2]

机构地区：[1]军械工程学院计算机工程系 [2]中国人民解放军78086部队

出　　处：《计算机工程与应用》

基　　金：国家自然科学基金(No.60940019);河北省自然科学基金(No.F2012506008);军械工程学院原始创新基金(No.YSCX0903)

年　　份：2013

卷　　号：49

期　　号：18

起止页码：89-93

语　　种：中文

收录情况：AJ、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2013_2014、IC、INSPEC、JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：为探究现场可编程门阵列(FPGA)密码芯片运行时电磁辐射造成的涉密信息泄漏情况,研究了互补金属氧化物半导体(CMOS)电路直接电磁辐射的原理,构建了FPGA密码芯片的近场电磁辐射模型。根据这个模型,探讨了近场电磁辐射测量点的选取,采用电磁扫描的方法解决了电磁探头在FPGA表面电磁信号采集的定位问题。此外,在阐释了差分电磁分析(DEMA)攻击原理的同时,完成了高级加密标准(AES)的FPGA电路设计,针对FPGA密码系统的DEMA攻击实验表明,通过电磁扫描找到最佳测量点,在42 000个样本的条件下能成功破解AES密码电路的128 bit密钥。

关 键 词：密码芯片 近场 电磁辐射 差分电磁分析  高级加密标准 现场可编程门阵列

分 类 号：TP309]