文献类型：期刊文章

作　　者：孙维东[1] 俞军[1] 沈磊[1]

机构地区：[1]复旦大学微电子研究院专用集成电路与系统国家重点实验室,上海200433

出　　处：《复旦学报（自然科学版）》

年　　份：2013

卷　　号：52

期　　号：3

起止页码：297-302

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2011、BIOSISPREVIEWS、CAS、CSCD、CSCD2013_2014、JST、MR、RCCSE、RSC、ZGKJHX、ZMATH、ZR、核心刊

摘　　要：分析对称加密算法AES和DES对差分错误分析的安全性.描述了一种针对AES加密算法的差分错误分析方法,通过软件模拟成功恢复根密钥.实验结果表明,只需20次左右的错误注入就能实现AES差分错误分析.提出一种新的DES差分错误分析方法,该方法与AES差分错误分析在原理上类似,软件模拟结果表明破解DES需要的错误注入次数更多.因此无任何防护手段的AES和DES加密算法很容易受到差分错误分析的攻击.最后提出引入错误侦测机制能有效抵御此类攻击.

关 键 词：高级加密标准 数据加密标准 差分错误分析  智能卡

分 类 号：TP309.7]