文献类型：期刊文章

作　　者：魏建军[1,2] 郎春燕[1] 林龙飞[1] 郑林[2,3] 李佳宣[2]

机构地区：[1]成都理工大学材料与化学化工学院应用化学系,成都610059 [2]四川阿波罗太阳能科技有限责任公司,成都610207 [3]中国海洋大学地求科学院,青岛266100

出　　处：《分析化学》

年　　份：2013

卷　　号：41

期　　号：6

起止页码：927-930

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2011、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2013_2014、EBSCO、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCI(收录号：WOS:000324169100022)、SCI-EXPANDED(收录号：WOS:000324169100022)、SCIE、SCOPUS、UPD、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：高纯锡样品经HCl和H2O2消解,HBr挥发分离,去除基体Sn,采用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法测定其中的16中杂质元素。通过溴化分离基体锡,有效克服了基体对所测杂质元素的干扰和对仪器进样系统的污染。在选定的实验条件下,方法检出限(3σ)介于0.001～0.004μg/g之间;相对标准偏差(RSD)为2.3%～5.6%;加标回收率在95.2%～103.6%范围内。本方法简单实用,能够满足纯度为99.99%和99.999%的高纯锡中16种杂质元素的测定要求。

关 键 词：电感耦合等离子体质谱 高纯锡  溴化分离  杂质元素  

分 类 号：TQ134.32] O657.63]