文献类型：期刊文章

作　　者：王宝升[1] 高淑梅[1] 王继成[1] 朱健强[2] 刘诚[1]

机构地区：[1]江南大学理学院光信息科学与技术系,江苏无锡214122 [2]中国科学院上海光学精密机械研究所联合实验室,上海201800

出　　处：《光学学报》

基　　金：江苏省自然科学基金(BK2012548)资助课题

年　　份：2013

卷　　号：33

期　　号：6

起止页码：65-70

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2011、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2013_2014、EI(收录号：20133516679487)、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：在研究电荷耦合器件(CCD)饱和效应对PIE成像质量影响的基础上,提出了一种改进的重建算法。该方法可以从发生部分饱和的数据重建出准确的再现像。和现有的方法相比,此方法可以在保证分辨率不受影响的条件下,大幅度缩短数据采集时间,因此可显著降低对实验装置和样品稳定性的要求,对PIE方法的推广应用有重要的实际意义。

关 键 词：成像系统 相干衍射成像  相位恢复 显微成像 PIE

分 类 号：TP212.1]