期刊文章详细信息
一种测量双片波片补偿器中光轴偏差角度的方法
A Method to Measure the Misalignment Angle of the Optical Axes of Biplate Compensators
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]中国科学院微电子研究所微电子器件与集成技术重点实验室,北京100029 [2]北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京100124 [3]北京智朗芯光科技有限公司,北京100191
基 金:中国科学院科研装备研制项目(28Y3YZ018001)资助课题
年 份:2013
卷 号:50
期 号:6
起止页码:89-94
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2011、CSCD、CSCD2013_2014、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:双片零级波片和消色差波片是双片波片贴合的补偿器,双片波片中的光轴对准精确度影响波片的偏振调制。提出一种精密检测贴合式双片波片光轴偏差角的方法,该方法基于旋转补偿器的直通式椭偏系统,可在未知起偏器方位角和检偏器方位角相对关系的情况下,通过波片的连续旋转测量偏差角度。探讨了偏差角度对椭圆偏振测量的影响,具体描述了检测方法的原理及数学表达,并通过对检测过程的模拟验证了方法的有效性。此方法对检测和提高双波片式补偿器制造精度具有参考价值。
关 键 词:测量 双片波片补偿器 光轴 光谱椭偏仪 偏差角度 消色差
分 类 号:O433.1]
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