文献类型：期刊文章

作　　者：徐宇亮[1,2] 陈西宏[1] 孙际哲[1] 刘瑞峰[3] 范浩[3]

机构地区：[1]空军工程大学防空反导学院 [2]中国人民解放军93655部队 [3]空军装备研究院防空所

出　　处：《西安交通大学学报》

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60971118)

年　　份：2013

卷　　号：47

期　　号：6

起止页码：79-84

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2011、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2013_2014、EI(收录号：20132616454205)、INSPEC、JST、MR、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘　　要：对复杂电子设备进行可靠性评估时,针对退化特征量难以确定和试验样本数目有限这两方面的困难,提出了一种基于虚拟样本加速退化试验(ADT)的电子设备可靠性评估新方法。将相对贴近度的概念引入到退化监测数据的处理中,以相对贴近度为退化特征量,并对原始样本进行虚拟增广,同时对增广样本数据加以修正处理,从而形成电子设备各应力下的退化轨迹。将该方法与传统的可靠性预测方法相结合,有效地解决了加速退化试验中极少样本数据的处理问题。实例分析表明:电子设备的预测寿命与出厂时标定使用寿命的误差为5.93%,86.27%的样品设备使用寿命超过9a,说明该方法可行、有效,并大大提高了试验的效费比。

关 键 词：复杂电子设备  加速退化试验 可靠性评估 退化模型  虚拟样本  

分 类 号：TP277] V442]