期刊文章详细信息
脉冲红外无损检测缺陷深度定量测量的数值模拟 ( EI收录)
Numerical simulation of defects depth quantitative measurement in pulsed infrared nondestructive testing
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]首都师范大学物理系北京市太赫兹波谱与成像重点实验室太赫兹光电子学教育部重点实验室,北京100048 [2]重庆师范大学物理与电子工程学院,重庆400047
基 金:国家自然科学基金(10804078)
年 份:2013
卷 号:42
期 号:4
起止页码:875-879
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX2011、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2013_2014、EI(收录号:20132616448390)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:缺陷深度定量测量是脉冲红外热波技术定量测量的重要应用,在一维热传导理论模型基础上分析了对数温度-对数时间二阶微分峰值法计算原理。以背面有6个大小相同深度不同的平底洞不锈钢试件为例,利用Ansys模拟脉冲红外无损检测过程,采用对数温度-对数时间二阶微分峰值法计算缺陷深度。比较和分析了Ansys和脉冲红外热波实验结果,结果表明所建立Ansys模型与脉冲热波实验结果相符,可为脉冲红外热波技术缺陷深度定量测量应用提供理论依据。
关 键 词:ANSYS数值模拟 缺陷深度 定量测量 脉冲红外无损检测
分 类 号:TN219]
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