期刊文章详细信息
PCB AOI检测中微小缺陷成像分析与检测
Inspection of small size defect in PCB AOI
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]北京凌云光视数字图像技术有限公司,北京100195
年 份：2013
卷 号：21
期 号：5
起止页码：18-20
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：自动光学检测(AOI)已成为PCB检测的主要方式,线路板微小缺陷检测对于AOI系统是严峻的挑战。研究线路板微小缺陷的成像问题。运用成像理论,研究了欠采样条件下微小缺陷的成像特点,分析了缺陷尺寸与像素分辨率的比例及采样相位对成像的影响,并进行了实验验证。该研究对PCB AOI系统的设计和检测性能分析有重要意义。
关 键 词：线路板检测自动光学检测 欠采样成像 微小缺陷检测
分 类 号：TN41]
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