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期刊文章详细信息

相位检测面形术在大尺度三维面形测量中的应用  ( EI收录)  

Phase-Measuring Profilometry in Big Scale Measurement

  

文献类型:期刊文章

作  者:李万松[1] 苏礼坤[1] 苏显渝[1]

机构地区:[1]四川大学光电系,成都610064

出  处:《光学学报》

基  金:国家自然科学基金资助项目

年  份:2000

卷  号:20

期  号:6

起止页码:792-796

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX1996、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:将相位检测面形术 (PMP)用于大尺度、高精度三维面形测量中。采用文中提出的双向高度坐标校正法 ,可以得到精确的物面三维坐标。提出了一种新的基于洪水算法的图像拼接法 。

关 键 词:相位检测面形术  坐标校正  图像拼接

分 类 号:O432.2]

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同被引文献:

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