文献类型：期刊文章

作　　者：杨强[1] 葛良全[1] 谷懿[1] 花永涛[1] 罗耀耀[1]

机构地区：[1]成都理工大学地学核技术四川省重点实验室,四川成都610059

出　　处：《光谱学与光谱分析》

基　　金：国家(863计划)项目(2012AA061803);中国地质调查局项目(1212011120186)资助

年　　份：2013

卷　　号：33

期　　号：4

起止页码：1130-1134

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2011、CAS、CSCD、CSCD2013_2014、EI(收录号：20131616214414)、IC、JST、PUBMED、RCCSE、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：根据端窗透射微型X射线管阳极靶的结构,建立了数理模型,讨论了电子束打靶的平均厚度与光管高压的关系,得到了X光管出射特征光谱强度的角度分布特征。同时利用Monte Carlo方法,对出射光谱在2π方向上的强度分布特征开展模拟研究。结果表明,微型X射线管阳极靶材平均厚度在2μm左右,在与入射电子束垂直方向几度的范围内获得的出射光谱其单色性较好。这些结论对于微型X射线管的结构设计和出射光谱单色化应用具有一定的理论指导意义。

关 键 词：微型X射线管  靶材厚度  特征光谱  角分布 蒙特卡罗模拟

分 类 号：TL1]