期刊文章详细信息
微波测量中的去嵌入方法
DE-EMBEDDING METHODS IN MICROWAVE MEASUREMENT
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]四川大学电气信息学院通信工程系,成都610065
年 份：2000
卷 号：37
期 号：3
起止页码：384-388
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX1996、BIOSISPREVIEWS、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、MR、RCCSE、ZGKJHX、ZMATH、ZR、核心刊
摘 要：考虑微带型微波功率器件的测量问题 ,运用 L RL (Line- Reflect- L ine)法对测试夹具去嵌入 ,待测件的散射参量可表为测量值的单值函数 ,消除了嵌入网络参量相位不确定性引入的误差 .
关 键 词：微波测量 去嵌入 测试夹具 微波功率器件 测量
分 类 号：TM931] TN610.6]
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