期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]重庆科技学院冶金与材料工程学院,重庆401331 [2]电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都610054 [3]中国工程物理研究院化工材料研究所,绵阳621900
基 金:国家自然科学基金(51102288);重庆市自然基金重点项目(CSTC2011BA4027);电子薄膜与集成器件国家重点实验室开放基金(KFJJ201104);重庆市教委科学技术研究项目(KJ121408)
年 份:2013
卷 号:42
期 号:1
起止页码:166-171
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2011、CAS、CSCD、CSCD2013_2014、EI(收录号:20131016078746)、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:采用基于密度泛函理论(DFT)赝势平面波方法计算了ZnS体系Ni掺杂前后的能带结构、态密度和光吸收系数曲线。结果表明:纯ZnS的能带结构是直接带隙,态密度显示属离子性较强而共价键较弱的混合键半导体材料。掺Ni的ZnS禁带宽度随掺杂量增加逐渐减小,能带简并度增大,且向低能方向移动;在价带顶出现杂质能级,说明是p型掺杂。纯ZnS在3.9 eV以下无吸收,红外透过率较高。掺Ni后吸收边红移,且在低能端(绿光区)出现新的吸收峰。
关 键 词:第一性原理 硫化锌 电子结构 光学性质 掺杂
分 类 号:O649] O472[化学类]
参考文献:
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引证文献:
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同被引文献:
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