文献类型：期刊文章

作　　者：王立新[1] 孙常明[1] 田峰[1] 何延善[2] 李银松[3]

机构地区：[1]内蒙古电力科学研究院,内蒙古呼和浩特010020 [2]北京鑫星大地物资供应有限责任公司,北京100028 [3]北京中矿环保科技股份有限公司,北京100080

出　　处：《内蒙古电力技术》

基　　金：内蒙古电力(集团)有限责任公司2010年第二批科技项目

年　　份：2012

卷　　号：30

期　　号：6

起止页码：12-16

语　　种：中文

收录情况：普通刊

摘　　要：基于材质粗大晶粒对超声波散射衰减原理,使用A型脉冲超声波反射法研究了20Cr1Mo1V(Nb)TiB紧固件Ⅰ类(晶粒级别1、2级)、Ⅱ类(晶粒级别3、4级)和Ⅲ类(晶粒级别5级)晶粒级别的检测方法。结果表明:各晶粒级别对超声波的散射衰减影响显著,且随着探测频率的增加而增大。在相同探测频率下,一次底波波高为满刻度80%时,Ⅰ类与Ⅲ类紧固件相比,二次底波波高平均值低7.61%～28.1%,波幅值平均值高10.6～15.8 dB;Ⅱ类和Ⅲ类紧固件相比,二次底波波高平均值低6.7%～9.4%,波幅值平均值高4～5.6 dB。当探测频率为5 MHz、10 MHz时,粗晶(Ⅰ、Ⅱ类)紧固件对超声波的散射衰减更为明显。用该方法可有效检测20Cr1Mo1V(Nb)TiB紧固件的晶粒级别,检测方法具有效率高、便捷、准确及无损材质等优点。

关 键 词：超声二次底波法  20Cr1Mo1V(Nb)TiB  紧固件 晶粒级别  金相法 散射衰减  

分 类 号：TH131]