文献类型：期刊文章

作　　者：方旺[1] 陈恒杰[1] 杨文艳[1] 刘丰奎[1] 唐海燕[1]

机构地区：[1]重庆科技学院数理学院物理系,重庆401331

出　　处：《四川大学学报（自然科学版）》

基　　金：重庆市教委科学技术研究项目(KJ121419);重庆科技学院科研基金(CK2010B05)

年　　份：2012

卷　　号：49

期　　号：6

起止页码：1307-1312

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2011、BIOSISPREVIEWS、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、MR、RCCSE、ZGKJHX、ZMATH、ZR、核心刊

摘　　要：本文利用强场图像中的高阶微扰公式计算了Y_2Ti_2O_7:Cr^(3+)晶体的电子顺磁共振谱(EPR)参量(g因子g_(//,g⊥)和零场分裂D),计算中采用双旋-轨耦合参量模型,同时考虑了中心离子和配体的旋-轨耦合对EPR参量的贡献,计算结果与实验值很好地吻合.结果表明Cr^(3+)掺入Y_2Ti_2O_7晶体会引起O^(2-)偏向[111]方向(C_3轴)2.55°,同时,杂质中心O^(2-)-Cr^(3+)键长相对于基质晶体的O^(2-)-Ti^(4+)键长增加0.005 A.

关 键 词：顺磁共振理论(EPR)  晶体场理论 缺陷结构  Y_2Ti_2O_7:Cr^3+  

分 类 号：O737] O482