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期刊文章详细信息

专利质量评价指标及其在专利计量中的应用    

Patent Quality Evaluation Indicators and Their Applications in Patentometirics

  

文献类型:期刊文章

作  者:马廷灿[1,2] 李桂菊[1,2] 姜山[1,2] 冯瑞华[1,2]

机构地区:[1]中国科学院国家科学图书馆武汉分馆 [2]中国科学院武汉文献情报中心,武汉430071

出  处:《图书情报工作》

年  份:2012

卷  号:56

期  号:24

起止页码:89-95

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2011、CSSCI、CSSCI2012_2013、JST、RCCSE、RWSKHX、ZGKJHX、核心刊

摘  要:通过对国内外专利质量评价相关研究的系统调研和梳理,提出一种新的专利质量评价指标分类体系,并选取稀土永磁这一重要的战略材料技术领域,对专利质量评价指标在专利计量中的用途进行实证研究。研究结果表明,有效地综合利用专利数量指标和质量评价指标,有助于对竞争区域、竞争机构等进行更加全面、更加深入的对比分析,快速遴选重点机构、重点专利,从而提升专利统计分析结果的深度和价值。

关 键 词:专利计量  质量评价  指标  分类体系  

分 类 号:G306.3]

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