文献类型：期刊文章

作　　者：花国良[1] 王国栋[1]

机构地区：[1]北京交通大学电子信息工程学院电磁兼容实验室,北京100044

出　　处：《电子测量与仪器学报》

年　　份：2012

卷　　号：26

期　　号：11

起止页码：982-986

语　　种：中文

收录情况：CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：开口同轴探头测量技术,由于可实现非破坏性测试,一直是众多科学家及工程技术人员关注的焦点。但对于同轴探头的误差分析,研究不够深入。相位补偿技术是最常用的同轴探头去嵌入技术,该技术假设同轴探头是理想器件,忽略了同轴探头加工精度带来的误差。为此,提出了一种更为精确的去嵌入技术,即基于传输线模型的开口同轴探头去嵌入技术,通过实测得到表征同轴探头误差的校准参量,从而量化同轴探头的误差模型,以去除在测量中同轴探头带来的误差。介绍了该技术的基本原理,并与相位补偿技术进行了对比,最终通过实测验证了该技术是有效可行的。

关 键 词：电磁参数 开口同轴探头  去嵌入技术  误差模型  

分 类 号：TM934.3]