文献类型：期刊文章

作　　者：喻建军[1] 李文石[1] 李雷[1]

机构地区：[1]苏州大学电子信息学院微电子学系,江苏苏州215006

出　　处：《中国集成电路》

基　　金：国家自然科学基金资助(61076102);江苏省高校自然科学研究项目资助(09KJB510017)

年　　份：2012

卷　　号：21

期　　号：11

起止页码：27-32

语　　种：中文

收录情况：普通刊

摘　　要：实验评估了"混沌"在商业化IC实现工具DC应用中的特性表现。方法是故意输入原本可以忽略不计的输入参数(自变量)扰动,记录与观察输出参数(因变量)质量的差异。统计实验结果,寻找输入自变量及输出因变量之间的非线性联系。基本结果是典型混沌现象的数量关系有如最坏的时序余量WNS(ns)与时钟微扰Clock Cycle Noise(ps)显现非线性函数关系(存在劣解或优值);关键结论是小输入扰动下在DC中运行同一电路多批(大于等于3),方便得到高质量的解决方案(基于TSMC65nm工艺)。

关 键 词：DC 混沌 输入自变量  输出自变量  

分 类 号：TN402] O415.5]