期刊文章详细信息
LC正弦振荡电路在无损检测中的应用
APPLICATION OF LC OSCILLATING CIRCUIT TO NONDESTRUCTIVE THICKNESS MEASUREMENT
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]咸宁师范高等专科学校物理系,湖北咸宁437005
年 份：2000
卷 号：22
期 号：9
起止页码：394-396
语 种：中文
收录情况：ZGKJHX、普通刊
摘 要：无损测厚是工程技术中一个重要课题。介绍一个 LC振荡电路的测厚装置 ,其测量原理及装置都非常简单 ,而测量结果能与专门的超声波测厚仪相媲美。对铁磁材料本身缺陷的探测也有很好的应用 ,而且造价低、体积小、现场应用方便。
关 键 词：正弦振荡电路 无损检验 涂层 厚度测量 铁磁材料
分 类 号：TG115.28]
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