文献类型：期刊文章

作　　者：陈宝国[1] 郑志伟[1] 黄士科[1] 沈振康[2]

机构地区：[1]中国空空导弹研究院,洛阳471009 [2]国防科技大学ATR实验室,长沙410073

出　　处：《红外与激光工程》

年　　份：2000

卷　　号：29

期　　号：4

起止页码：55-57

语　　种：中文

收录情况：AJ、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：与红外单元器件系统相比 ,焦平面面阵探测器的一个最大的缺点是其固有的非均匀性 ,尽管现在面阵探测器的非均匀性有了很大改进 ,但是非均匀性仍然限制凝视红外系统的探测性能。实用化、实时的非均匀性校正是红外焦平面器件应用的一个关键技术 ,尽管现在已经有很多种基于场景的非均匀性校正方法 ,但是两点校正算法仍然是基础的校正方法 ,有不可替代的价值。两点校正算法的流程简单固定 ,非常适合用FPGA实现。文章介绍了利用FPGA硬件实现焦平面探测器非均匀性的两点校正算法 ,实验达到了预期效果 ,同时也显示了该算法的一些不足之处。

关 键 词：红外焦平面探测器 非均匀性校正 FPGA

分 类 号：TN215]