文献类型：期刊文章

作　　者：王承[1] 刘治国[2] 叶韵[1] 梁海浪[1] 何进[1]

机构地区：[1]北京大学深港产学研基地深圳市系统芯片设计(SOC)重点实验室,广东深圳518057 [2]工业和信息化部电子第五研究所,广州510610

出　　处：《微电子学》

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60936005);深圳市杰出青年项目(JC201005280670A)

年　　份：2012

卷　　号：42

期　　号：5

起止页码：737-740

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2011、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、IC、INSPEC、JST、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：提出一种基于可测性分析的模拟电路多频测试矢量自动生成方法。根据待测电路可利用的测试点,进行测试点优选和模糊元器件确定,实现可测性分析;应用灵敏度分析,实现多频测试矢量自动生成。实验结果表明,该方法对模拟电路测试矢量生成非常有效,具有很强的实用性。

关 键 词：可测性分析  模拟电路 多频测试矢量  故障诊断

分 类 号：TP206.3]