文献类型：期刊文章

作　　者：周书才[1] 杜长坤[1] 符春林[1]

机构地区：[1]重庆科技学院冶金与材料工程学院,重庆401331

出　　处：《粉末冶金材料科学与工程》

基　　金：重庆市自然科学基金资助项目(2009BB4228);重庆科技学院校内科研基金资助(CK2010Z09)

年　　份：2012

卷　　号：17

期　　号：4

起止页码：475-481

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2011、EI(收录号：20124215582380)、SCOPUS、核心刊

摘　　要：为了解决传统方法制备Mg2Si1-xSnx(0≤x≤1.0)固溶体过程中带来Mg的氧化和挥发等问题,引进微波低温合成法制备Mg2Si1-xSnx热电固溶体,用XRD及SEM分析手段对合成的块体的物相和形貌进行表征,并研究Mg2Si1-xSnx化合物的热电特性和在微波场中的加热特性以及合成工艺对Mg2Sil xSnx压坯制备的影响。结果表明:Mg2Si1-xSnx压坯在微波场中的加热升温曲线与Mg2Si1-xSnx压坯密度相关,随压坯密度增大,升温速率降低;XRD分析表明在微波辐射下Mg2Si1-xSnx形成了良好的固溶体;在测试温度范围内,Mg2Si1-xSnx在500 K温度下最高的ZT值达到0.26。

关 键 词：Mg2Si1-xSnx  固溶体 低温固相反应法  微波合成

分 类 号：TM23[材料类]