期刊文章详细信息
基体温度对磁控溅射TiN薄膜结构与力学性能的影响
Effect of Substrate Temperature on Microstructure and Mechanical Properties of Magnetron Sputtered TiN Thin Films
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]沈阳大学表面工程研究所,辽宁沈阳110044 [2]沈阳大学辽宁省先进材料制备技术重点实验室,辽宁沈阳110044
基 金:教育部留学回国人员科研启动基金资助项目;沈阳市科技基金资助项目(F10-205-1-60)
年 份:2012
卷 号:24
期 号:4
起止页码:23-27
语 种:中文
收录情况:CAS、JST、ZGKJHX、普通刊
摘 要:采用直流反应磁控溅射方法在304不锈钢表面沉积TiN薄膜.利用场发射扫描电镜、X射线衍射仪和纳米压痕仪研究基体温度对TiN薄膜结构与性能的影响.结果表明:TiN薄膜为柱状结构,表面平整、致密.薄膜为面心立方结构(fcc)TiN并存在择优取向,室温和150℃时薄膜为(111)晶面择优取向,300和450℃时薄膜为(200)晶面择优取向;室温时薄膜厚度仅为0.63μm,加温到150℃后膜厚增加到1μm左右,但继续加温对膜厚影响不明显;平均晶粒尺寸随着基体温度的升高略有上升;薄膜的硬度、弹性模量和韧性(H3/E*2)随基体温度的升高而增加,最值分别达到25.4,289.4和0.1744GPa.
关 键 词:反应磁控溅射 TIN 基体温度 微结构 机械性能
分 类 号:TB79] TB34
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