文献类型：期刊文章

作　　者：杨鹏[1] 徐志凌[1] 徐雷[1]

机构地区：[1]复旦大学物理系,三束材料改性国家重点实验室,上海200433

出　　处：《光谱学与光谱分析》

年　　份：2000

卷　　号：20

期　　号：3

起止页码：283-285

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX1996、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：2004057976700)、IC、INSPEC、JST、PUBMED、RCCSE、RSC、SCI-EXPANDED(收录号：WOS:000088966900009)、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：本文报道一种简单的方法 ,从平面介质薄膜的反射干涉光谱来计算薄膜的光学常数和厚度。当一束光照射在基板上的介质膜上时 ,由于膜上下界面反射光的相干 ,会使反射光谱的曲线有一定的波动。我们对反射相干光谱进行理论分析 ,给出计算公式 ,从测量曲线中的实验值得出薄膜的光学常数 n、k以及厚度等参数。此种方法简单可行 ,而且易于编程处理。

关 键 词：薄膜  反射干涉光谱  折射率 厚度

分 类 号：O484.41] O484.5[物理学类]