期刊文章详细信息
光器件的回损测量
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]JD SU公司
年 份：2012
期 号：7
起止页码：95-97
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：1 概述 自光纤通信系统出现就有了光纤无源器件的回损测试方案，早期的典型测试仪表包括JDSU公司的RXMeter、Agilent公司的816xx系列等。
关 键 词：回损 光器件 Agilent公司 测量 光纤无源器件 光纤通信系统 测试方案 测试仪表
分 类 号：TN929.11]
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