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期刊文章详细信息

X荧光能谱技术应用于珠宝首饰检测的原理和方法    

PRINCIPLES AND METHODS OF EDXRF APPLICATED TO IDENTIFICATION OF GEMS AND JEWELRY

  

文献类型:期刊文章

作  者:高岩[1] 杨德辉[2] 杨军涛[1]

机构地区:[1]国家珠宝玉石质量监督检验中心,北京100013 [2]美国热电分析仪器集团能谱部北京实验室,北京100044

出  处:《宝石和宝石学杂志》

年  份:2000

卷  号:2

期  号:3

起止页码:8-12

语  种:中文

收录情况:CAS、普通刊

摘  要:X荧光能谱仪是一种无损检测仪器 ,特别适用于珠宝首饰的鉴定检测。从测金仪到大型 X荧光能谱仪 ,所有不同档次 X荧光能谱仪的工作原理是相同的 ,主要包括 X荧光激发源、X荧光探测器、样品室、信号处理与数据计算 4个系统。通过对 X荧光能谱技术原理的解释、不同性能 X荧光能谱仪的介绍 ,试图说明 X荧光能谱技术如何开发应用于珠宝首饰的鉴定检测 ,并给出了具体实例。

关 键 词:X荧光能谱  原理  方法  珠宝首饰 鉴定  

分 类 号:TS934.3[轻工类]

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同被引文献:

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