文献类型：期刊文章

作　　者：宋凝芳[1] 朱明达[1] 潘雄[1]

机构地区：[1]北京航空航天大学光电技术研究所,北京100191

出　　处：《宇航学报》

基　　金：国家自然科学基金(61007040)

年　　份：2012

卷　　号：33

期　　号：6

起止页码：836-842

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2011、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20123215324449)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：针对军品级SRAM型FPGA的单粒子效应特性,文中采用重离子加速设备,对Xilinx公司Virtex-II系列可重复编程FPGA中一百万门的XQ2V1000进行辐射试验。试验中,被测FPGA单粒子翻转采用了静态与动态两种测试方式。并且通过单粒子功能中断的测试,研究了基于重配置的单粒子效应减缓方法。试验发现被测FPGA对单粒子翻转与功能中断都较为敏感,但是在注入粒子LET值达到42MeV.cm2/mg时仍然对单粒子锁定免疫。本文对翻转敏感度、测试方法与减缓技术进行了讨论,试验结果说明SRAM型FPGA对单粒子效应比较敏感,利用重配置技术的减缓方法能够有效降低敏感度,实现空间应用。

关 键 词：单粒子效应 FPGA 重离子 重配置 辐射  

分 类 号：V19]