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浅谈金属化电容器损耗角正切tanδ的有效控制
Discussion on Effective Control of Dielectric Loss Angle Tangent(tanδ) of Metalized Capacitor
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]安徽工业职业技术学院,安徽铜陵244000 [2]安徽铜峰电子股份有限公司,安徽铜陵244000
年 份：2012
卷 号：33
期 号：3
起止页码：61-64
语 种：中文
收录情况：JST、普通刊
摘 要：降低和控制损耗角正切tanδ是决定CBB21型金属化电容器性能是否优异的关键,根据卷绕、热聚合、喷金、焊接、浸渍、测试等工序对损耗影响关系分析,通过工艺参数的优化比较,提出选择合理工艺参数,尤其是喷金、焊接工艺参数,能够有效控制和降低电容器的损耗角正切tanδ。
关 键 词：损耗角正切 喷金工艺 焊接工艺 接触电阻
分 类 号：TM533.3]
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