期刊文章详细信息
电子元器件的失效机理和常见故障分析
Electronic Primary Device's Failure Mechanism and Common Fault Analysis
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]河南工业职业技术学院机电工程系,河南南阳473009
年 份：2012
卷 号：39
期 号：3
起止页码：92-96
语 种：中文
收录情况：DOAJ、普通刊
摘 要：电子元器件在使用过程中,常常会出现失效和故障,从而影响设备的正常工作。分析了常见的电阻器类、电信器类、电感和变压器类以及集成块类电子元器件的失效模式和失效机理、失效原因和常见的故障现象。实践证明:只有了解电子元器件的失效机理和常见故障,才能保证设备或系统的可靠性工作。
关 键 词：电子元器件 失效 机理 缺陷 故障
分 类 号：TN606]
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